(19)国家知识产权局
(12)发明 专利申请
(10)申请公布号
(43)申请公布日
(21)申请 号 202210396555.7
(22)申请日 2022.04.15
(71)申请人 陕西科技大 学
地址 710021 陕西省西安市未央区未央大
学园区
(72)发明人 张开生 关凯凯
(74)专利代理 机构 西安弘理专利事务所 61214
专利代理师 涂秀清
(51)Int.Cl.
G06T 7/00(2017.01)
G06V 10/80(2022.01)
G06V 10/82(2022.01)
G06K 9/62(2022.01)
G06N 3/04(2006.01)
G06N 3/08(2006.01)
(54)发明名称
基于改进YOLOv5s的印刷电路板缺陷检测方
法
(57)摘要
本发明公开了基于改进YOLOv5s的印刷电路
板缺陷检测方法, 包 括: 建立YOL Ov5s算法的网络
结构, 在原有的三种检测尺度上再进行一次上采
样添加小目标检测尺度; 在网络模型末端用
Transformer模块来替代 CSP模块; 建立基于改进
YOLOv5s算法的PCB表面缺陷检测模型; 根据PCB
表面缺陷样本数据集, 对基于改进YOLOv5s算法
的PCB表面缺陷检测模型进行多尺度训练; 将待
检测PCB的图像输入预先训练好的基于改进
YOLOv5s算法的PCB表面缺陷检测模型, 输 出待检
测PCB表面缺陷的位置信息, 本发明在一定程度
上快速有效地检测出PCB缺陷, 具有一定的先进
性和实用性。
权利要求书2页 说明书6页 附图6页
CN 114820486 A
2022.07.29
CN 114820486 A
1.基于改进YOLOv5s的印刷电路板缺陷检测方法, 其特 征在于, 具体包括以下步骤:
步骤1: 获取PCB图像, 对PCB缺陷图像进行分类和标注;
步骤2: 对获取的PCB图像进行裁 剪、 数据增强;
步骤3: 针对YOLOv5s模型对小目标缺 陷检测效果差的问题进行改进, 基于YOLOv5s模型
建立适合PCB小目标缺陷图像 检测的PCBNet;
步骤4: 图像训练; 利用所构建的训练样本集和验证样本集, 对PCBNet进行训练并验证
模型性能;
步骤5: 图像测试; 使用改进后的PCBNet权重文件对测试集PCB图像进行检测, 分析检测
结果。
2.根据权利要求1所述的基于改进YOLOv5s的印刷电路板缺陷检测方法, 其特征在于,
所述步骤1具体包括:
1.1: 在PCB生产线配备高清线阵相机, 当PCB通过触发传感器, 启动成像设备后对PCB图
像进行拍摄, 获取高清线阵 图像, 对PCB缺陷图像剥离背景;
1.2: 在步骤1.1中对整理好的缺陷图像, 利用LalbelImg工具, 对数据集进行人工标注
并生成xml格式的标签文件。
3.根据权利要求1所述的基于改进YOLOv5s的印刷电路板缺陷检测方法, 其特征在于,
所述步骤2具体包括:
2.1: 在拍摄的图像当中挑选含有PCB缺陷的图像;
2.2: 将含有缺陷的PCB图像裁 剪成640×640的大小;
2.3: 对裁剪后的PCB图像采用改变亮度、 翻转、 随机裁剪、 位移和添加高斯噪声的方式
进行数据增强, 以9:1的比例把数据增强后的PCB数据集分为训练集和验证集。
4.根据权利要求1所述的基于改进YOLOv5s的印刷电路板缺陷检测方法, 其特征在于,
所述的步骤3具体包括:
PCB缺陷实时检测模型PCBNet包括: 输入端、 骨干网络、 Transformer模块、 Neck、 Head;
其中, 骨干 网络为CSPDarknet53, 其包含了Focus、 CBL、 SPP、 BottleNeckCSP模块; Neck部分
采用了FPN+PAN的网络结构;
针对YOLOv5s模型对小目标缺陷检测效果差的问题进行改进, 建立适合PCB小目标缺陷
图像检测的改进型YOLOv5s模型; 增加一个感受野更小的检测头, 在640 ×640的输入图片
上, 通过4倍、 8倍、 16倍和32倍下采样得到160 ×160、 80×80、 40×40、 20×20大小的预测特
征层构建一个新的具有 四个检测尺度的网络结构; 将Tr ansformer模块放置在网络结构末
端来替换YOLOv5s网络结构末端的Bot tleneckCS P模块。
5.根据权利要求1所述的基于改进YOLOv5s的印刷电路板缺陷检测方法, 其特征在于,
所述的步骤4具体包括:
4.1: PCB缺陷图片从输入部分输入, 输入部分采用了Mosaic:数据增强、 自适应锚框计
算和图片尺 寸处理的预 处理方式; 骨干网络Focus模块将 输入进行复制与切片操作; 再经过
一个大小为3 ×3卷积核来改变网络的通道数; 通过Batch_Norm层, 将梯度集中在原点附近,
实现结果归一 化; 最后用LeakyRelu激活函数输入结果到下一层卷积Bot tleNeckCS P;
BottleNeckCSP残差结构能优化梯度信息, 同时降低计算量, 首先输入会被分成两部
分, 一部分先进 行n次BottleNeck操作, 再进行卷积操作, 另一部分直接进行卷积操作, 然后权 利 要 求 书 1/2 页
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2两部分再经过Concat拼接后输出至空间金字塔池化S PP;
在空间金字塔池化SPP中, 先进行Conv提取特征输出, 再经过 四种不同尺度的最大池化
进行多尺度融合;
4.2: 最后在骨干网络末端特征图分别率较低的位置上经过Transformer模块, 首先输
入向量在计算之前通过增加一个线性层进行位置编码来减少在Reshape时引起的部 分位置
信息的丢失, query向量Q、 key向量K、 value 向量V都是输入向量I通过不同的线性变换得到
的, 表示如下公式(1):
式中,
为第h个I到Q的线 性变换,
为第h个I到 K的线性变换,
为第h个I到V的线
性变换。 得到了三个关键向量之后, 再送入自注意机制当中, 每一个head都是特征和信息的
子空间, 表示如下公式(2):
其中, dk是Qh和Kh点积的方差, 用于缓解softmax出现梯度消失的问题, headh表示第h个
自注意力的计算结果, 再经过多头注意力机制对由输入向量I得到多个自注意力的head进
行特征融合和线性变换, 表示如下公式(3):
MultiHead(Q,K,V)=Co ncat(head1,head2,...,headh)Wout (3);
其中, Concat为特征融合操作, Wout是线性变换矩阵, 再经过多头注意力机制后的两次
线性变换, 就能获得 更关注于PCB缺陷本身的特 征图;
4.3: 将得到 的更关注于PCB缺陷的特征图送入到Neck部分, 将深层特征与浅层特征进
行拼接, 再传递到 Head;
4.4: Head部分以GIoU作为B ounding box的损失函数, 用于生成图像中预测的缺陷位置
和分类信息, 包 含着四种不同的检测尺度, 对应预测大、 中、 小、 微小目标物体;
4.5: 利用改进后的YOLOv5s模型对PCB缺陷图像进行训练, 采用官方YOLOv5s权重文件
对模型进行训练, 训练完成后得到新的权 重文件PCBNet.pt, 并分析其训练数据。
6.根据权利要求1所述的基于改进YOLOv5s的印刷电路板缺陷检测方法, 其特征在于,
所述的步骤5具体包括:
使用PCBNet.pt权重文件对测试集图片进行测试, 分析其检测效果, 包括损失函数、 平
均精度均值、 查 准率以及召回率。权 利 要 求 书 2/2 页
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专利 基于改进YOLOv5s的印刷电路板缺陷检测方法
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